DGBY
このデータベースについて
データベースの説明
| データベース全般 | |
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ディージービーワイ |
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Database for Gene function and expression of Baker's Yeast |
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10.18908/lsdba.nbdc00953-000 |
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作成氏名
安藤 聡
作成者英名
Akira Ando
作成者所属
農研機構 食品総合研究所
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〒305-8642 茨城県つくば市観音台2-1-12 |
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マイクロアレイデータ、その他の発現データのデータベース |
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パン酵母の製造や製パン過程は、パン酵母にとって過酷なストレス(製パン関連ストレス)を伴います。製パン関連ストレスは、ドライイースト製造における乾燥(乾燥ストレス)、菓子パン生地に添加される高濃度のショ糖による高浸透圧(高ショ糖ストレス)、冷凍生地製パン法における凍結・融解(冷凍ストレス)等、広範かつ複合的なものであり、パン酵母の発酵力を著しく低下させます。
私共は、これら3つの製パン関連ストレスに着目したパン酵母のポストゲノム研究を行ってきました。 この研究では、1) DNAマイクロアレイを用いた網羅的遺伝子発現解析(トランスクリプトミクス)、2) 酵母遺伝子破 壊株セットを用いた網羅的表現型解析(フェノミクス)、という二つのアプローチによって、ストレス耐性に関連する遺伝子の情報を取得しました。これらの情報を皆様にご活用頂けるようにデータベース化し、DGBY (Database for Gene function and expression of Baker’s Yeast)として公開致しました。
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パン酵母の製パン関連ストレス(乾燥、冷凍、高濃度ショ糖)に対する応答遺伝子あるいは耐性に必要な遺伝子の探索に利用できます。 |
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CC 表示-継承 詳細 |
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文献名
Functional genomics of commercial baker's yeasts that have different abilities for sugar utilization and high-sucrose tolerance under different sugar conditions.
著者名
Tanaka-Tsuno F, Mizukami-Murata S, Murata Y, Nakamura T, Ando A, Takagi H, Shima J.
雑誌名/掲載年月/号
Yeast. 2007 Oct;24(10):901-11.
外部リンク
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| データベースのオリジナルサイト情報 | |
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http://www.naro.affrc.go.jp/org/nfri/yakudachi/yeast/index.html |
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2006/10/02 |
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2009/07/29 |
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http://nfri.naro.affrc.go.jp/index.html |
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