このデータベースについて
遺伝子破壊株セットを用いた網羅的表現型解析 - 高ショ糖ストレス
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データ名
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遺伝子破壊株セットを用いた網羅的表現型解析 - 高ショ糖ストレス | ||||||||||||
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DOI
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10.18908/lsdba.nbdc00953-005 |
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データ内容の説明
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菓子パン等に用いられる高糖生地中では、パン酵母は高いショ糖濃度に曝されます。従って、パン酵母の高ショ糖ストレス耐性は実用レベルにおいて極めて重要であると言えます。しかしながら、高ショ糖ストレス耐性の機構には不明な点が多く残されています。そこで、我々は高ショ糖ストレス耐性に必要な遺伝子を明らかにするため、出芽酵母の非必須遺伝子破壊株セットを用いた網羅的な解析を行いました。その結果、273株の高ショ糖感受性株を同定することに成功しました。これらの株について、ソルビトールおよび食塩に対する感受性等を調べたところ、プリン合成関連遺伝子等の破壊株が高ショ糖ストレス特異的に感受性を示すことが明らかになりました。ショ糖、ソルビトールあるいは食塩による高浸透圧下における細胞内ATP濃度を調べたところ、プリン合成関連遺伝子の破壊株では、高ショ糖存在下でのATP濃度が極めて低いことが分かりました。このことから、細胞内ATP濃度が高ショ糖ストレス感受性を決定づける一つの要因であるものと示唆されました。 | ||||||||||||
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データファイル
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データファイル名 :
CSV形式: dbgy_high_sugar_stress.zip
データのURL :
ファイルサイズ :
90KB
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簡易検索URL
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http://togodb.biosciencedbc.jp/togodb/view/dgby_high_sugar_stress | ||||||||||||
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データ取得方法
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指定の培地で30℃20時間培養した後の630nmのODをマイクロタイタープレートリーダー（Elx800）で測定 |
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解析方法
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変異株と野生型BY4743のOD比を計算
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データ件数
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4,713件 |
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| データ詳細 | |||||||||||||
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